Solution logicielle sur oscilloscope pour le test du protocole des interfaces UFS chez Agilent

- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données

- Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5

- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz

- Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques

- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés

- Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs

- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel

- Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés

- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un”

- Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion

- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile

- Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision

- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation

- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles

- Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes

- Système PXIe de test de bruit de phase

- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF

- Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel

- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré

- Microsonde pour oscilloscopes haute performance

- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles

- Système de mesure de tests paramétriques

- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY

- Oscilloscopes économiques et pédagogiques

- Châssis au standard PXIe

- Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test

- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes

- Simulateur de circuits RF pour les concepteurs de puces RFIC